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阻抗分析儀與斷層成像
時間:2023-01-04瀏覽量：0
文章詳情
阻抗分析儀是一種電子測試儀器。它可以測量復(fù)數(shù)電阻隨測試頻率的變化。阻抗是表征電子元器件，電子電路和元件材料的一個很重要的參數(shù)。另外，阻抗分析可以還被應(yīng)用到介電材料，比如生物組織，食品和地質(zhì)樣本中。它的原理是通過相敏檢測，同時測量器件在掃頻測試過程中的電流和電壓。阻抗分析儀的主要參數(shù)分別是頻率范圍，阻抗范圍，阻抗幅值的精度和相位精度。更進一步的還包括測量速度，以及在測試中施加電壓或者電流偏置的功能。
阻抗分析儀測得的阻抗包含阻抗幅值，實部，虛部，以及由電壓和電流造成的相位(差)。根據(jù)等效電路模型，一些阻抗參數(shù)包括電導(dǎo)，電感和電容，即可被輕松的計算并顯示出來。阻抗分析儀一般能夠提供高精度的阻抗測量，比如0.05%的基本精度，從μHz到GHz的頻率范圍，從μΩ 到 TΩ的幅值范圍, 同時還有10 mdeg 的相位精度。與阻抗分析儀相比，LCR測試儀也提供了阻抗測量的功能。一般來說，它的精度比較接近阻抗分析儀，但是頻率范圍較低。同時，LCR測試儀只能測量固定頻率下的阻抗，不能掃頻，也不能圖形化顯示測量結(jié)果。
